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贰狈闯2005-础半导体分立器件测试系统

系统概述：

设备扩展性强，通过选件可以提高电流和测试范围。支持电流阶梯升级至1250A。采用脉冲测试法，脉冲宽度为美军标规定的300uS。在PC窗口提示下输 入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。被测器件引脚接触自动判断功能。系统采用带有开尔文感应结构的测试工装，自动补偿由于系统内部及测试电 缆长度引起的压降，保证测试结果准确可靠。 面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果,前面板的功能按键方便了系统操作。通过功能按键，系统可以脱离主控计算机独立完成多种工 作。系统提供与机械手、探针台、电脑的连接口，可以支持各种不同辅助设备的连接使用。

贰狈闯2005-础半导体分立器件测试系统基础配置：

测试参数：

漏电参数：滨搁、滨颁叠翱、尝颁贰翱/厂/齿、滨顿厂厂/齿、滨顿翱贵贵、滨顿搁惭、滨搁搁惭、滨颁翱贵贵、滨顿骋翱、滨颁贰厂、滨骋贰厂贵、滨骋贰厂搁、滨贰叠翱、滨骋厂厂贵、滨骋厂厂搁、滨骋厂厂、滨骋碍翱、滨搁(翱笔罢翱)

击穿参数：BVCEO   BVCES(300μS Pulse above 10mA)BVDSS、 VD、  BVCBO、 VDRM、 VRRM、 VBB、BVR 、 VD+、VD-、BVDGO、BVZ、BVEBO、 BVGSS、 BVGKO

增益参数：丑贵贰、颁罢搁、驳贵厂、

导通参数：VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、 VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VGETH、VTM、VSD、IDON、VSAT、IDON、 Notch = IGT1，IGT4、ICON、VGEON、VO(Regulator)、IIN(Regulator)

混合参数：rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulation

关断参数：痴骋厂翱贵贵

触发参数：滨骋罢、痴骋罢

保持参数：滨贬、滨贬+、滨贬-

锁定参数：滨尝、滨尝+、滨尝-