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日置尝颁搁数字电桥测试仪滨惭3536元器件测试 测量频率DC，4 Hz?8 MHz的尝颁搁测试仪 测量频率DC，4Hz~8MHz 测量时间：最快1ms 基本精度：±0.05% rdg 1mΩ以上的精度保证，可测量低阻 可内部发生DC偏压测量
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日置粉末阻抗测试系统尝颁搁测试仪 IM3523 测量频率40Hz - 200kHz的尝颁搁测试仪 应用于生产线和自动化测试领域的理想选择
SAIMR6630?精密尝颁搁测试仪提供 7 种频率选项（10 Hz 至1/3/5/10/20/30/50MHz），可以进行交流信号的LCR测试， 测试频率和测试级别可进行连续变化的阶段测量。可在不同测试、模式条件下、进行高速地连续测试。提供 输出阻抗25?/100?可切换，ALC补偿，多步测试; BIN分类及比较器功能在自动元件生产时进行良品与不良 品分类。
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