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贰狈-3020叠分立器件参数测试仪采用上位计算机控制，集点测试和曲线扫描为一体，可实现点参数测试和图示仪功能。软件操作界面友好智能，在 PC 窗口提示下输入被测器件的测试参数即可完成填表编程，操作人员不需具备专业计算机编程语言知识，使用简捷方便。操作软件采用填入式编程方法，专为国内用户开发。

贰狈闯2005-础半导体分立器件测试系统采用脉冲测试法，脉冲宽度为美军标规定的300uS。在PC窗口提示下输 入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。被测器件引脚接触自动判断功能。系统采用带有开尔文感应结构的测试工装，自动补偿由于系统内部及测试电 缆长度引起的压降，保证测试结果准确可靠。

贰狈闯2005-叠半导体分立器件测试系统，支持电流阶梯升级至1250A。采用脉冲测试法，脉冲宽度为美军标规定的300uS。在PC窗口提示下输 入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。被测器件引脚接触自动判断功能。系统采用带有开尔文感应结构的测试工装，自动补偿由于系统内部及测试电 缆长度引起的压降，保证测试结果准确可靠。

EN-3020C IGBT静态参数测试系统针对 IGBT的静态参数而研发的智能测试系统，功率3500V、1500A（可扩展），自动化程度高，按照操作人员设定的程序自动工作。计算机记录测试结 果，测试结果可转化为文本或EXCEL 格式存储，工作时序、开关的动作状态，数据采集等均由计算机和PLC共同完成。 测试方法灵活，可测试单个单元和多单元的模块，系统安全稳定，人机界面友好，操作简便。

EN-6500A IGBT动态参数测试系统，是针对IGBT 器件的开关特性及内部续流二极管的反向恢复特性而推出的全自动测试系统。适用于电流小于4500A，集电极电压 小于6000V，续流 二极管正向电流小于4500A的IGBT 器件的特性参数测试。

ENJ2010 IGBT便携式半导体静态参数测试仪，是一种全新的功率半导体器件参数测试仪器，可用于额定电流在2-100A的IGBT和MOS管主要静态参数的测试。仪器与配套电脑连接使用，通过友好人机界面操作，便于各 测试参数的组合、数据结果以表格形式呈现，具有使用便捷、测试精度高等优点，适合于各测试器件使用现场及产线维护场合使用。

ENI1220 IPM功率模块测试系统基于DSP和FPGA技术，通过SPWM波形控制信号源，实时检测IPM模块的开关时间特性（开通/关断时间）、电压电流谐波特性，并判断器件的故障保护功能（如过压、过流、过热等）。 ?

高压电器耐久测试系统（简称耐久）为狈骋滨针对汽车、轨道交通、家用电器、航空器、船舶、医疗仪器等相关产物中电气回路耐久可靠性测试而专门研发的测试系统。